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產(chǎn)品名稱：自動粒子AOI檢查設(shè)備
自動粒子AOI檢查設(shè)備| 技術(shù)參數(shù) | AOI檢測機(jī) | |
| 型號 | AOI105 | |
| 面板尺寸（mm） | L25×W30 ～ L400×W300 | |
| 厚度:0.15 ～ 2.0mm | ||
| 節(jié)拍時間 | 長邊2IC+2FPC+短邊1IC≤10.4S | |
| 重復(fù)測量精度 （10次重復(fù)測試） | 導(dǎo)電粒子數(shù)計(jì)算：BUMP內(nèi)圧痕數(shù)≦10% Shit檢測(XY-shift)精度：1.0μm | |
| 相機(jī)軸 | X、Z軸細(xì)分0.1um，精度±1um | |
| 電源 | 單相 AC 200-220V ，50Hz、32A | |
| 空壓源 | 0.45Mpa以上,氣管直徑12mm,1路,200L /min | |
| 真空源 | -70KPa,氣管直徑12mm,1路,200L /min | |
| 設(shè)備尺寸（mm） | L3850 × W1420× H1600 | |
| 重量 | 約2400kg | |
| 基本功能 | ||
| 檢測項(xiàng)目 | IC/FPC/COF壓痕，偏位，導(dǎo)電粒子區(qū)域的裂縫，異物，氣泡，腐蝕等缺陷檢查 | |
| 4K線掃相機(jī)參數(shù) | 拍照視野：2.1mm（有效1.8mm） 掃描速度：Max 120mm/s，Normal 80mm/s 分辨率：0.72μm/pixel 工作距離：10mm | |
| 偏位檢查方法 | 粒子分布計(jì)算；mark識別計(jì)算 | |
| NG排出 | 有 | |
| 搬出補(bǔ)正 | 有 | |
| ※選配功能 | ||
| IC表面檢查 | 選配。裂紋、欠損、劃傷 | |
| 讀碼功能 | 選配 | |
| CIM功能 | 選配 | |
| DFS功能 | 選配 | |
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